LCR测量·DCR测量·扫描测量
一台仪器实现连续测量和高速检测
阻抗分析仪 IM3570
主要优势
◆压电元件的共振特性测量，通过扫频测量，来测得频率和阻抗值，根据峰值的比较功能可判断共振状态是否优良。在LCR模式下，可以测量120Hz到1kHz之间的C值变化。可连续进行扫频测量(阻抗分析)和C值测量均可在这1台仪器上实现。另外，可利用IM9000(选件)的等效电路分析功能根据参数进行合格与否判定。
◆高分子固态电容的C-D值和低ESR测量，可进行高分子固态电容的C-D值(120Hz)和低ESR(100kHz)的测量。可设置不同的测量条件(频率、电平、模式)连续测量不同的测量项目。与本公司以往产品相比，测量低阻抗的时候重复精度提高一位。例如，在测量条件在1mΩ(1V，100kHz)测量速度为MED的时候重复精度(偏差)*0.12%可放心测量。也适用于100kHz的ESR测量。
◆电感线圈，变压器)的DCR和L-Q值测量，连续测量L、Q值(1kHz，CC1mA)和DCR可以在同一画面上显示数值。对于带磁芯的线圈，由于电感测量值会随测试电流大小而变化，现在的产品可以用恒流CC的方式解决这个问题。与以往产品相比，低电容测量时的重复精度提高了一位，可以更为稳定的测量DCR了。根据线圈的用途不同，测试频率也有所不同。测量频率范围广，是4Hz~5MHz，能够测量各种线圈。对于有电流依存性的元件，通过恒流扫描测量，可将电流特性用图表形式显示出来。
IM3570的特点
◆低电容(高阻抗)测量，提高稳定性。和HIOKI以往的产品相比，将测量低电容(高阻抗)时的重复精度提高了一位。例如：１pF(1MHz，1V)的条件下，测量速度SLOW2的话，重复精度(偏差)*可达0.01%，实现稳定测量。同时，因为也提高了相位的重复精度，所以提高了低电容(高阻抗)测量时的D测量的稳定性。
◆广范围的测量频率。IM3570可在DC和4Hz～5MHz的范围内以5为分辨率(1kHz以下为0.01Hz分辨率)设置频带。可进行共振频率测量和接近工作条件状态下的测量和评估。
◆广范围的测量电压/电流。除了可以设定一般的开环信号，还能设定恒压/恒流模式。可设定的测量电平信号，从5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)。(根据频率、测量模式不同，测量信号电平的设置范围也不同。)
◆内部可发生DC偏置电压。只需主机即可施加2.5V的DC偏置电压进行测量。可放心对钽电容等极性电容器进行测量。充电阻抗为100Ω。
◆高分辨率，7位显示。可进行7位显示的高分辨率测量。可设置3~7位的显示位数。
◆测试线可达4m。4端子的构造降低了测试线的影响，测量线长0、1、2、4m时，保证测试精度。自动设备的排线方便简单。(根据线长的不同，精度保证的频率范围也不同。)
通过简单的回路分析，获取是否合格的判定
等效电路分析软件IM9000是能够追加等效电路分析等功能的选件。可利用具有代表性的5种等效电路分析和分析结果，算出理想的频率特性，确认与实测值之差。另外，可显示科尔-科尔图以及导纳圆图等
可使用前置的USB接口进行保存和读取
可使用市面上销售的U盘插入前置USB接口中，以保存测量结果和设置。(前面板中的USB端口为U盘专用。测量结果将先保存至IM3570的内存中后，再一同保存至U盘中。由于兼容性，也会有无法使用的U盘。)
测试治具·探头
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