深圳市育创科技有限公司

VLSI测试系统

VLSI TEST SYSTEM

Chroma 3380D

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基本介绍

为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能(High Parallel Test)，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源 (VI source) 外，更具备any-pins-to-any-site高同测功能 (256数字信道管可并行测256个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。

主要特点

■ 50/100 MHz测试频率

■ 50/100 Mbps数据速率

■ 256数字信道管脚

■并行测试可达 256 sites 同测数

■ 32/64/128 M Pattern 内存

■多样弹性 VI 电源

■弹性化硬件结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)

■ Real parallel Trim/Match 功能

■时序频率测试单位 (TFMU)

■ AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) (可选配)

■ SCAN向量存储深度(***高 2G bits/chain) (可选配)

■ ALPG 测试选配供内存IC用

■ STDF 工具支持

■测试程序/pattern 转换器 (J750, D10, V50,  E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)

■人性化 Window 7 操作系统