SOC/模拟测试系统
MODEL 3650-EX
基本概述
半导体制造是一个快速发展的行业；越来越多的设备与各种功能高度集成。必须构建资本设备以适应多代设备和应用。具有多种可用选项，例如 AD/DA 转换器测试、用于内存测试的 ALPG、高电压 PE、多重扫描链测试、VI45&PVI100 和可扩展的 100 种模拟 6 种不同类型的 AD 兼容测试选项，可用于模拟 5 种可定制的 AD 测试混合测试。Chroma3650-EX 平台架构允许第三方供应商开发可针对特定应用轻松添加的重点仪器。它可以通过覆盖比以往更广泛的设备来扩展测试范围，从而实现低成本生产测试系统。
主要特性
■10个用于数字、模拟和混合信号应用的通用插槽
■50/100MHz时钟速率，100/200Mbps数据速率
■多达512个站点并行测试
■多达1024个数字I/Opins
■32/64MW矢量存储器
■高达32CHPMU用于高精度测量
■每引脚定时/PPMU/频率测量
■扫描功能到4G深度/扫描链
■ALPG选项用于内存测试
■边缘放置精度±300ps
■高达64CH高电压引脚
■96CH高密度DPS
■32CHHDADDA混合信号选项
■8~32CHVI45模拟选项
■2~8CHPVI3P XI100P接口应用程序界面
■PXI100应用程序界面应用程序 CRISP，全套软件工具
■适用于其他平台的测试程序和模式转换器
■直接接受其他测试仪的DIBand探针卡
■支持STDF数据输出
■风冷，小尺寸测试头设计
Chroma3650-EX 为您带来***具成本效益的 SoC 测试
该系统专为高吞吐量和高并行测试能力而设计，为无晶圆厂、IDM 和测试机构提供***具成本效益的解决方案。3650-EX 专为测试消费类设备、高性能 SoC 设备和微控制器提供全功能软性、高精度、强大的软件工具和卓越的可靠性。
高性能低成本生产系统
台湾致茂/CHROMA 3650-EX 不仅降低了测试系统的成本，而且还通过更高的并行测试能力更快地对更多设备进行字节检测，从而降低了测试成本。借助 ChromaPINFIC 和先进的校准系统，具有比其他低成本 ATE 更好的整体时序精度。模式生成器 EX6-36 的内存深度为 36. 通过与向量内存相同的深度，Chroma3650-EX 允许为每个向量添加模式指令。此外，强大的序列模式生成器提供了多种微指令，以满足各种复杂测试向量的不同需求。硬件真实的每引脚架构和灵活的站点映射与无插槽设计. 多达 1024 个数字引脚，96 个设备电源，每引脚 PMU，混合信号和模拟测试能力，3650-EX 提供高性能和吞吐量的组合以及具有成本效益的测试解决方案。
高并行测试能力
致茂3650-EX 强大、通用的并行电子资源可以同时对多个引脚执行相同的参数测试。其将 128 个数字引脚集成到一个插槽中。在每个 LPC 板上，它包含支持定时生成的高性能 ChromaPINFIC。本地控制器电路的集成管理资源设置和结果读出. 并因此缩短了系统控制器的开销时间。通过任意引脚到任意站点的映射设计，可提供多达 512 个站点的高吞吐量并行测试能力，从而以更灵活、更轻松的布局扩大批量生产性能。
灵活性
半导体制造是一个快速发展的行业；越来越多的设备与各种功能高度集成。必须建造资本设备，才能使几代设备和应用寿命更长。具有多种可用选项，例如 AD/DA 转换器测试、用于内存测试的 ALPG、高压PE、多重扫描链测试、VI45&PVI100 模拟测试选项和 HDADDA 混合信号测试选项。Chroma3650-EX 可以为客户提供广泛的覆盖范围，以测试具有灵活配置的不同类型的设备。此外，Chroma3650-EX 平台架构允许第三方供应商开发可针对特定应用轻松添加的重点设备。它可以通过测试覆盖范围比以往更低的设备成本来扩大测试范围。
从设计到生产
Chroma 3650-EX 内置 MRX 解决方案可以支持 PXI 仪器，可以为用户提供更广泛的覆盖范围到不同类型的应用程序。对于那些使用 PXI 仪器进行设计验证和验证的用户，他们可以将 PXI 仪器直接移至 3650-EX 进行生产。使用相同的 PXI 仪器在设计阶段和生产中不会出现不相关的问题。Chroma3650-EX 已成功集成了多个 PXI 解决方案，例如音频，视频和 RF 应用不仅在硬件集成方面，还用于内置库和软件中的工具，以帮助用户更轻松地控制 PXI 仪器并启用加速测试程序开发，缩短产品上市时间。
微信号：13421301530
