光电组件晶圆点测系统
Chroma 58635系列
Chroma 58635系列***大可测试6吋晶圆,并搭配致茂电子之精密测试仪器设备,如电流源与温度控制器,能满足雷射二极管测试之严苛要求,雷射二极管相关光电特性参数随温度变化而有所变异,58635系列机种精准之温度控制,能提供***稳定、***准确之量测数值。Model 58635系列因应不同测试需求,共包含4机种:58635-L、58635-N、58635-F、以及58635-LN。有以下功能:
▲LIV量测系统
致茂电流源提供准确稳定之电流源以及电压量测,搭配积分球与光谱仪,提供准确之光功率与波长量测。藉由58635-L完整之软件功能,所有LIV与波长之相关参数均能在此量测。
▲近场量测系统
58635-N参照ISO关于雷射近场量测之相关规范,对于雷射二极管之光束传播比例(beam propagation ratio)或光束质量(beam quality)之相关参数,提供精准快速之量测。
▲远场量测系统
58635-F针对雷射二极管之远场光学特性进行测量,诸如雷射之发光角度。另参照IEC人眼安全相关规范,58635-F能于远场找寻光束***强之处,从而判断是否符合人眼安全相关规范。
▲LIV与近场2合1量测系统
58635-LN可在同一次点测中,同时测试LIV与近场量测的所有测试项目。致茂独特的二合一光学头设计,使系统在相同机台尺寸下,便能达成LIV与近场的测试,节省宝贵的无尘室空间。
主要特点
■依据ISO/IEC标准
■***大可测试6吋晶圆
■宽广的测试范围与高精准温度控制
■同时支持Pulse与CW模式操作
■ LIV量测: Model 58635-L近场量测: Model 58635-N远场量测: Model 58635-F LIV与近场2合1量测 : Model 58635-LN
■支持multisite测试
■可选购高速短脉冲电源功能
应用范围
订购信息
★58635-L: 光电组件晶圆LIV点测系统
★58635-N: 光电组件晶圆近场量测点测系统
★58635-F: 光电组件晶圆远场量测点测系统
★58635-LN: 光电组件晶圆LIV&NF点测系统