基本概述
台湾致茂/Chroma 11050系列除了具备Chroma LCR表一贯的优异量测性能之外，也继承了各种便利的功能设计。三种不同的输出阻抗模式，满足用户对于量测结果与其他仪器的匹配需求。弹性的显示位数设定，可依用户对于量测分辨率的需求，调整成适合的显示方式。测试讯号的监测功能，可以实时观察待测物上实际承载的电压与电流大小。触发延迟、量测延迟与平均次数等时序设定，让量测能紧密配合自动化机台动作，并在有限的量测时间内取得***精确的量测结果。另一大特色是完善的接口配置。标准配备的接口包含了可供软硬件设定量测条件、触发量测动作、判定量测结果与搜集量测数据的Handler与RS-232C接口，与可储存仪器设定的USB储存接口、可直接控制Chroma直流重迭电源输出的外部重迭电流接口。选购配备的部分则可依用户在软件通讯上的需求，选购GPIB或LAN接口。
主要特点
■测试参数:L/C/R/Z/Y/DCR/Q/D/θ
■测试频率:75kHz~30MHz(11050-30M)1kHz~10MHz(11050)60Hz~5MHz(11050-5M)
■测试电压:10mV~5V
■基本准确度:0.1%
■7ms快速量测
■3种输出阻抗模式
■测试讯号监测功能
■比较与分类选别功能
■开短路与加载补偿功能
■量测、显示单元分离式设计
■标准的Handler、RS-232C、USB储存与外部重迭电流控制接口
■可选购GPIB或LAN接口
测试模式-多点量测
LCRZ模式是为了测试频率相依性与电压相依性参数而设计。电容与电感的阻抗值与等效串联电阻值容易受到频率的影响；而因为介电质的特性，陶瓷电容的电容值则是容易受到测试电压的影响。藉由LCRZscan模式，易于让用户去评估这些特性。
BiasScan模式
BiasScan模式是为了测试磁性组件的饱和特性而设计。电感的电感值与阻抗值会根据加载的重迭电流而下降，透过与Chroma直流重迭电流源的整合，高频LCR表可以控制电流的设定与输出，Biasscan模式将有助于测试流程的编辑。
ParameterSweep模式
Parametersweep模式是为了描绘各种特性曲线而设计。***大401个测试点使曲线更为平滑，用户能够轻易地使用参考曲线储存/召回功能比较两条曲线的差异，如果有需要确认详细的测试数据，只需开启光标或是切换为列表模式。
DualFrequency模式
Dualfrequency模式是为了计算两个频率下测试数据的差异百分比而设计。此计算结果有时能显示出与质量相关的特性，举例来说，电感值的百分比差异能够应用于评估铁芯于高频时的损失状态。
11050:高频LCR表,1kHz~10MHz
11050-5M:高频LCR表,60Hz~5MHz
11050-30M:高频LCR表,75kHz~30MHz
A110211:组件测试盒(DIP)A110234:高频测试线(1M)
A110501:SMD四端测试治具
A133509:GPIB&Handler适配卡
A133510:LAN&USB-H适配卡
B110500:自动化高频延伸测试线(BNC转SMA,1M)
微信号：13421301530
